Der tinyTracker 172 ist ein kalibriertes Bandradiometer für die Bestrahlungsstärke- und Dosismessung an Xenon-Excimer-Lampen bei 172 nm. Der SiC-Photodetektor ist von der PTB kalibriert und im Bereich 155 nm bis 520 nm empfindlich, der Messbereich beträgt 0–200 mW/cm². Bei 10 mm Bauhöhe läuft das Gerät durch Bestrahlungskanäle mit und zeichnet bis zu drei Stunden mit 1 bis 100 Hz auf – auch unter Inertgasatmosphäre.
Xenon-Excimer-Lampen ermöglichen neue, ressourcenschonende und effizientere Fertigungsmöglichkeiten im Bereich der Oberflächenbehandlung zur Mattierung, Reinigung, Oberflächenaktivierung oder zur Einsparung von Photoinitiatoren.
Hierzu wird das schmalbandige Spektrum um 172 nm in der Regel unter Inertgasatmosphäre genutzt. Die hohe Photonenenergie reicht dann aus, um nahezu alle organischen Verbindungen zu spalten.
Auch im sogenannten Vakuum-UV (VUV) ist die Messung von 172 nm eine wichtige Komponente zur Prozesskontrolle und Optimierung.
Mit dem tinyTracker 172 bieten wir ein kalibriertes Bandradiometer an, das für die Anwendung in einer inerten Atmosphäre geeignet ist. Der tinyTracker 172 ist hierzu absolut kalibriert und misst die Bestrahlungsstärke und Bestrahlungsdosis von Xenon-Excimer-Lampen.
Durch die besonders flache Bauform kann der tinyTracker 172 durch Bestrahlungskanäle von UV-Bandtrocknern und anderen industriellen Anlagen geführt werden.
Die Aufzeichnung der Werte startet automatisch bei Überschreitung einer einstellbaren Mindestbestrahlungsstärke. Der eingebaute Photodetektor ist von der PTB kalibriert. Die Datenaufzeichnung erfolgt auf einer austauschbaren SD-Karte, die Datenübertragung über USB. Die Auswertung und der Datenexport erfolgen bequem am PC. Der Li-Ionen-Akku erreicht eine Aufzeichnungsdauer von bis zu 3 h. Der Li-Ionen-Akku kann direkt über die USB-Schnittstelle geladen werden.
Highlights des tinyTrackers für 172 nm Xenon-Excimer-Lampen
- Kalibrierter Photodetektor für VUV-Strahlung
- Ideal für die Messung von 172 nm
- Geringe Höhe von nur 10 mm
- Schnelle Datenaufzeichnung
tinyTracker 172 nm als 3D-Modell ansehen
Den Datenlogger von allen Seiten betrachten, drehen und zoomen – direkt im Browser.
Der tinyTracker 172 nm lässt sich im 3D-Produktviewer von allen Seiten betrachten – originalgetreu aus den CAD-Konstruktionsdaten. Gerade bei einem Gerät, das durch enge Anlagen mitlaufen soll, sagt die räumliche Ansicht mehr über die Baugröße als eine Maßangabe.
Technische Daten tinyTracker 172 für Xenon-Excimer-Lampen
| Messbereich | 0-200 mW/cm² |
| Auflösung | 12 Bit |
| Aufzeichnungsdauer | bis zu 3 Stunden |
| Aufzeichnungsfrequenz | 1 - 100 Hz, einstellbar |
| Photodetektor | SiC |
| Spektr. Empfindlichkeit | 155 nm - 520 nm |
| Abmessungen | 195 x 79 x 10 mm |
| Zul. Betriebstemp | 60 °C |
| Versorgungsspannung | 5 V DC |
| Stromversorgung | Li-Ion-Akku, 1.250 mAh |
| Schnittstelle | Mini-USB 2.0 |
| Systemvoraussetzungen | Windows 10 / 11 |
| 300 MB HDD, 4 GB RAM |
